Разработать методы и алгоритмы неразрушающего тестирования и контроля встроенных запоминающих устройств цифровых измерительно-управляющих систем: отчет о НИР (заключ.)

Abstract

Результаты проведенных исследований могут быть применены при производстве современных встроенных запоминающих устройств. Кроме того, они могут быть использованы в мобильных системах критического приложения, таких как навигационные системы транспортных средств, системы контроля и управления технологическими процессами, системы мониторинга и портативных цифровых устройствах, а также в бытовой технике и аппаратуре широкого применения.