Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/928
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМаксименко, В. А.-
dc.contributor.authorКороновский, А. А.-
dc.contributor.authorМоскаленко, О. И.-
dc.contributor.authorХрамов, А. Е.-
dc.contributor.authorАлексеев, К. Н.-
dc.contributor.authorБаланов, А. Г.-
dc.date.accessioned2014-10-01T07:56:26Z
dc.date.accessioned2017-07-19T09:40:50Z-
dc.date.available2014-10-01T07:56:26Z
dc.date.available2017-07-19T09:40:50Z-
dc.date.issued2014-
dc.identifier.citationМаксименко, В. А. Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур. // Международная научно-техническая конференция, приуроченная к 50-летию МРТИ-БГУИР (Минск, 18-19 марта 2014 года) : материалы конф. В 2 ч. Ч. 1. - Минск, 2014. - С. 52-53ru_RU
dc.identifier.isbn978-985-543-037-8-
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/928-
dc.description.abstractВ работе предложен метод анализа устойчивости стационарного состояния сильносвязанной полупроводниковой сверхрешетки, позволяющий рассчитывать значение напряжения, необходимого для возникновения неустойчивости и находить частоту возникающих колебаний.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectполупроводниковая сверхрешеткаru_RU
dc.subjectпространственно-временная неустойчивостьru_RU
dc.subjectдоменыru_RU
dc.titleМетод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктурru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:Секция «Радиотехника и электроника»

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
метод анализа.pdf375.61 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.