Skip navigation
Home
Browse
Browse Items by:
Issue Date
Author
Title
Subject
Communities & Collections
Lang
русский
English
Log in:
My DSpace
Receive email
updates
Edit Profile
Request a document copy:
Моделирование электрических характеристик приборных структур, включающих наноразмерные области Si/Ge, с протяженными приконтактными областями : отчет о НИР (заключ.)
Requester name:
Requester e-mail:
Files:
all files (of this document) in restricted access
the file(s) you requested
Message:
Cancel
Send
