Skip navigation
Home
Browse
Browse Items by:
Issue Date
Author
Title
Subject
Communities & Collections
Lang
русский
English
Log in:
My DSpace
Receive email
updates
Edit Profile
Репозиторий БГУИР
Browsing by Author Бересневич, А. И.
Jump to:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
А
Б
В
Г
Д
Е
Ж
З
И
Й
К
Л
М
Н
О
П
Р
С
Т
У
Ф
Х
Ц
Ч
Ш
Щ
Ъ
Ы
Ь
Э
Ю
Я
or enter first few letters:
Sort by:
title
issue date
submit date
In order:
Ascending
Descending
Results/Page
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Authors/Record:
All
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Showing results 1 to 20 of 38
next >
Issue Date
Title
Author(s)
2007
Выбор параметров электрического режима в качестве имитационных факторов при прогнозировании постепенных отказов биполярных транзисторов
Боровиков, С. М.
;
Бересневич, А. И.
;
Шалак, А. В.
;
Будник, А. В.
2005
Выбор имитационных воздействий в задачах прогнозирования постепенных отказов полупроводниковых приборов
Бересневич, А. И.
;
Боровиков, С. М.
2021
Выбор имитационных факторов для моделирования постепенных отказов биполярных транзисторов большой мощности
Калита, Е. В.
;
Бересневич, А. И.
;
Боровиков, С. М.
;
Borovikov, S. M.
2006
Достоверность прогнозирования функциональных параметров полупроводниковых приборов методом имитационных воздействий
Боровиков, С. М.
;
Бересневич, А. И.
;
Шалак, А. В.
2020
Индивидуальное прогнозирование надежности биполярных транзисторов с использованием электрического напряжения в качестве имитационного фактора
Боровиков, С. М.
;
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бересневич, А. И.
;
Казючиц, В. О.
2012
Использование напряжения коллектор–эмиттер в качестве имитационного фактора для прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов
Бересневич, А. И.
2016
Использование напряжения коллектор–эмиттер в качестве имитационного фактора при прогнозировании постепенных отказов биполярных транзисторов
Бересневич, А. И.
;
Станюш, И. П.
;
Хатьков, А. А.
2013
Использование параметров электрического режима биполярных транзисторов в качестве имитационных факторов
Бересневич, А. И.
;
Бондаренок, П. А.
;
Бруй, А. А.
2005
Использование параметров электрического режима биполярных транзисторов в качестве имитационных факторов
Бересневич, А. И.
;
Боровиков, С. М.
2005
Использование температуры в качестве имитационного фактора при прогнозировании постепенных отказов полупроводниковых приборов
Боровиков, С. М.
;
Бересневич, А. И.
2015
Испытания изделий электронной техники на длительную наработку
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бурак, И. А.
;
Бересневич, А. И.
2012
Лабораторный практикум с использованием виртуальных объектов и систем по дисциплине «Теоретические основы проектирования электронных систем безопасности»
Боровиков, С. М.
;
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бересневич, А. И.
;
Цырельчук, И. Н.
;
Матюшков, В. Е.
2011
Математические методы в конструировании и технологии радиоэлектронных средств : метод. пособие к практ. занятиям для студентов специальностей «Моделирование и компьютер. проектирование РЭС» и «Проектирование и пр-во РЭС» всех форм обучения
Боровиков, С. М.
;
Бересневич, А. И.
;
Шнейдеров, Е. Н.
;
Малышева, Т. В.
;
Галузо, В. Е.
2015
Методика прогнозирования надёжности изделий электронной техники по постепенным отказам
Шнейдеров, Е. Н.
;
Бурак, И. А.
;
Бересневич, А. И.
2019
Методика прогнозирования параметрической надежности транзисторов
Бересневич, А. И.
2022
Моделирование постепенных отказов биполярных транзисторов с использованием электрических нагрузок в качестве имитационного воздействия
Калита, Е. В.
;
Бересневич, А. И.
2022
Моделирование электрического параметра транзисторов при прогнозировании их надежности методом имитационных воздействий
Боровиков, С. М.
;
Калита, Е. В.
;
Бересневич, А. И.
2022
Модель прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов большой мощности методом имитационных воздействий для аппаратуры систем телекоммуникаций
Боровиков, С. М.
;
Будник, А. В.
;
Калита, Е. В.
;
Бересневич, А. И.
2008
Надёжность радиоэлектронных средств : лаборатор. практикум для студентов специальностей «Техн. обеспечение безопасности» всех форм обучения
Боровиков, С. М.
;
Бересневич, А. И.
;
Шалак, А. В.
2010
Оценка ошибок прогнозирования параметрической надёжности изделий электронной техники
Боровиков, С. М.
;
Бересневич, А. И.
;
Шалак, А. В.
;
Шнейдеров, Е. Н.