Skip navigation

Browsing by Author Жигулин, Д. В.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
 
Showing results 1 to 9 of 9
Issue DateTitleAuthor(s)
2019Аммиачная молекулярно-пучковая эпитаксия гетероструктур AlGaN на подложках сапфираРжеуцкий, Н. В.; Соловьев, Я. А.; Войнилович, А. Г.; Свитенков, И. Е.; Петлицкий, А. Н.; Жигулин, Д. В.; Луценко, Е. В.
2018Анализ дефектов интегральных схем с использованием растро-вого электронного микроскопа в режиме наведенного токаСолодуха ., В. А.; Шведов, С. В.; Петлицкий, А. Н.; Петлицкая, Т. В.; Чигирь, Г. Г.; Пилипенко, В. А.; Филипеня, В. А.; Жигулин, Д. В.; Уситименко, Д. С.
2022Влияние температуры быстрого термического отжига на электрофизические свойства омического контакта металлизации Ti/Al/Ni к гетероструктуре GaN/AlGaNЮник, А. Д.; Соловьев, Я. А.; Жигулин, Д. В.
2017Влияние быстрой термообработки на оптические параметры кремнияСолодуха, В. А.; Пилипенко, В. А.; Омельченко, А. А.; Жигулин, Д. В.; Петлицкая, Т. В.; Соловьев, Я. А.
2024Влияние быстрой термообработки при формировании контактов алюминий-поликремний на электрические параметры КМОП микросхемПилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Соловьёв, Я. А.; Шестовский, Д. В.; Жигулин, Д. В.
2022Влияние термической нагрузки при формировании контактов al-al на электрические параметры интегральных микросхем с контактами алюминий-поликремнийПилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Соловьёв, Я. А.; Шестовский, Д. В.; Жигулин, Д. В.
2016Использование четырехзондового наноманипулятора для измерения вольтамперной характеристики биполярного N-P-N -транзистораПилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Петлицкий, А. Н.; Шведов, С. В.; Панфиленко, А. К.; Петлицкая, Т. В.; Филипеня, В. А.; Жигулин, Д. В.
2016Разработка пленочного сцинтилляционного детектора ионизирующих излучений : отчет о НИР (заключ.)Гапоненко, Н. В.; Хорошко, Л. С.; Меледина, М. В.; Жигулин, Д. В.; Руденко, М. В.; Циркунов, Д. А.
2020Экспресс-контроль элементов интегральных схем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного токаПетлицкий, А. Н.; Жигулин, Д. В.; Ланин, В. Л.