| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2015 | Автоматический контроль микродефектов на полупроводниковых пластинах | Плебанович, В. И. |
| 2017 | Базовые технологические операции фотолитографии и оборудование для их реализации : учебно-методическое пособие | Родионов, Ю. А.; Котов, Д. А.; Плебанович, В. И.; Ковальчук, Н. С. |
| 2015 | Безмасковая литография – требование сегодняшнего дня | Плебанович, В. И. |
| 2015 | Двухсторонняя литография - решение проблем отвода тепла и разводки межсоединений | Плебанович, В. И.; Plebanovich, V. I. |
| 2020 | Инновационные технологии и оборудование субмикронной электроники | Достанко, А. П.; Аваков, С. М.; Голосов, Д. А.; Емельянов, В. В.; Завадский, С. М.; Колос, В. В.; Ланин, В. Л.; Мадвейко, С. И.; Мельников, С. Н.; Никитюк, Ю. В.; Петлицкий, А. Н.; Петухов, И. Б.; Пилипенко, В. А.; Плебанович, В. И.; Солодуха, В. А.; Соколов, С. И.; Телеш, Е. В.; Шершнев, Е. Б. |
| 2016 | Материалы, технологические процессы и устройства радиоэлектронной, электронно-оптической и медицинской техники : отчет о НИР (заключ.) | Достанко, А. П.; Гурский, Л. И.; Бордусов, С. В.; Мадвейко, С. И.; Плебанович, В. И.; Лушакова, М. С.; Божко, А. И.; Марченков, В. А.; Завадский, С. М.; Ермоленко, М. В.; Василевич, В. П.; Коробко, А. О. |
| 2016 | Об экспериментальном подтверждении времени хранения информации интегральных микросхем EEPROM после отключения питания | Плебанович, В. И.; Боровиков, С. М.; Будник, А. В. |
| 2006 | Образование остаточных нарушений в кремнии, имплантированном ионами углерода и бора | Плебанович, В. И.; Белоус, А. И.; Челядинский, А. Р.; Оджаев, В. Б. |
| 2016 | Прогнозирование времени хранения информации после отключения питания для интегральных микросхем энергонезависимой памяти | Плебанович, В. И.; Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Бурак, И. А. |
| 2017 | Специфика преподавания инженерных дисциплин по микросенсорике | Родионов, Ю. А.; Котов, Д. А.; Плебанович, В. И. |
| 2009 | Формирование функциональных слоев пошаговым и двойным легированием для интегральных микросхем с элементами субмикронных размеров | Плебанович, В. И. |
| 2017 | Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техники | Боровиков, С. М.; Шнейдеров, Е. Н.; Плебанович, В. И.; Бересневич, А. И.; Бурак, И. А. |
| 2011 | Электрофизические процессы и оборудование в технологии микро– и наноэлектроники | Достанко, А. П.; Русецкий, А. М.; Бордусов, С. В.; Ланин, В. Л.; Ануфриев, Л. П.; Карпович, С. В.; Жарский, В. В.; Плебанович, В. И.; Адамович, А. Л.; Грозберг, Ю. А.; Голосов, Д. А.; Завадский, С. М.; Соловьев, Я. А.; Дайняк, И. В.; Ковальчук, Н. С.; Петухов, И. Б.; Телеш, Е. В.; Мадвейко, С. И. |
