https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1366| Title: | Моделирование распределения температуры в токоведущих элементах интегральных микросхем в результате воздействия электростатических разрядов |
| Other Titles: | Modeling of temperature distribution in the driving elements integrated circuits resulting electrostatic discharge |
| Authors: | Пискун, Г. А. Алексеев, В. Ф. Ланин, В. Л. Левин, В. Г. |
| Keywords: | доклады БГУИР;неразрушающий контроль;электростатический разряд;численная модель |
| Issue Date: | 2014 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Моделирование распределения температуры в токоведущих элементах интегральных микросхем в результате воздействия электростатических разрядов / Г. А. Пискун [ и др.] // Доклады БГУИР. - 2014. - № 4 (82). - С. 16 - 22. |
| Abstract: | Экспериментально исследован принцип распространения тепловых полей в интегральных микросхемах в результате воздействия электростатических разрядов. Предложена численная модель распределения температуры в токоведущих элементах интегральных микросхем вследствие контактного воздействия разряда статического электричества, основанная на электропроводности и Фурье-анализе их теплопроводности. Разработанная модель позволяет выявить зависимость температуры от напряжения разряда и определить наиболее уяз- вимую токопроводящую область за счет обнаружения локальных зон расплавления. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/1366 |
| Appears in Collections: | №4 (82) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Piskun_Modelirovaniye.PDF | 734.27 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.