Subscribe to this collection to receive daily e-mail notification of new additions

Issue Date	Title	Author(s)
2020	Микрокомпьютерная система контроля термопрофилей пайки с применением индукционного нагрева	Хацкевич, А. Д.; Ланин, В. Л.
2020	Цифровой контроль температуры нагрева СВЧ микроблока при высокочастотной пайке	Грищенко, Ю. Н.; Горбач, В. Р.; Ланин, В. Л.
2020	Моделирование процесса формирования микровыводов припоя импульсным лазерным излучением	Фам, В. Т.; Ланин, В. Л.
2020	Техническое обеспечение кислородной терапии, СИПАП-терапии, НИВЛ и ИИВЛ у пациентов с COVID-19	Зельманский, О. Б.
2020	Кислородотерапия в тактике ведения пациентов с COVID-пневмониями в общесоматическом стационаре	Давидовская, Е. И.; Богуш, Л. С.; Зельманский, О. Б.; Дубровский, А. С.; Печинский, Д. Г.; Лантухова, И. Г.; Лобанова, Н. Н.
2021	О реализации интерактивного метода обучения на базе электронного образовательного ресурса для изучения русского языка как иностранного	Ломако, А. В.; Ломако, С. В.; Хрящева, Н. П.
2021	Метод Роте для вязкого течения в трубе	Каянович, С. С.
2021	Краевая задача для стержневого течения в трубе	Каянович, С. С.
2020	Внешняя политика Великого Княжества Литовского в конце XIV–середине XVI в.: основные направления в геополитической перспективе	Николаева, Л. В.
2021	Повышение быстродействия системы электронного обучения	Бондарик, В. М.; Тавгень, И. А.; Цибизова, Т. Ю.; Яроц, В. В.
2021	Анализ взаимоотношений Великого Княжества Литовского с Королевством Польским в конце XIV–середине XVI вв. в польской исторической литературе второй половины XX–начала XXI вв.	Николаева, Л. В.
2021	Анализ топологии фрагмента сечения интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком	Кабак, Т. В.
2021	Анализ геометрических параметров контактов кремниевой подложки и алюминиевой шины в интегральных микросхемах (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком	Кабак, Т. В.; Петлицкая, Т. В.
2021	Ионно-лучевые технологии как средство анализа топологии интегральной микросхемы (ИМС)	Кабак, Т. В.
2021	Анализ отказа интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком	Кабак, Т. В.
2021	Моделирование тепловых полей индукционного нагрева шариков припоя при сборке FLIP-CHIP модулей	Ланин, В. Л.; Буй, Д. К.; Хацкевич, А. Д.
2021	Ультразвуковая микросварка проволочных выводов с токовой активацией для различных покрытий корпусов интегральных схем	Ланин, В. Л.; Нгуен, Ж. В.
2021	Модификация паяльных паст углеродными нанотрубками	Ланин, В. Л.; Мишечек, А. А.; Дерман, А. А.
2021	Вихревая магнитная структура сферических наночастиц железа	Михайлюк, Р. А.; Дорошевич, И. Л.; Mihaylyuk, R. A.; Doroshevich, I. L.
2021	Профессиональный дискурс инженера-программиста	Петрова, Н. Е.; Пятрова, Н. Я.