Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28366
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorТашлыкова-Бушкевич, И. И.-
dc.contributor.authorЯковенко, Ю. С.-
dc.contributor.authorТашлыков, И. С.-
dc.contributor.authorБарайшук, С. М.-
dc.contributor.authorМихалкович, О. М.-
dc.date.accessioned2017-12-07T08:07:22Z-
dc.date.available2017-12-07T08:07:22Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationПрименение метода атомно – силовой микроскопии для исследования морфологии поверхности тонких пленок, сформированных методом ионно – ассистированного осаждения / И. И. Ташлыкова-Бушкевич и др. // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии: материалы XII Междунар. науч. Конф. – Минск: ИТиМО НАН Беларуси, 2016. – С. 94 – 98.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/28366-
dc.description.abstractВ работе представлены результаты исследования топографии поверхности тонких пленок состава Al – 1,0 ат.% Cr, Al – 1,5 ат.% Fe, сформированных ионно – ассистированным осаждением на стеклянных подложках. Получены данные по шероховатости исследованных поверхностей. Обсуждается процесс формирования пленок.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherИТиМО НАН Беларусиru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectморфологияru_RU
dc.subjectшероховатостьru_RU
dc.subjectтонкие пленкиru_RU
dc.subjectионно-ассистированное осаждениеru_RU
dc.titleПрименение метода атомно – силовой микроскопии для исследования морфологии поверхности тонких пленок, сформированных методом ионно – ассистированного осажденияru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Yakovenko_Primeneniye.PDF942.94 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.