Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30299
Title: Исследование механизмов отказов микросхем в условиях воздействия дестабилизирующих факторов
Authors: Пансевич, С. А.
Keywords: авторефераты диссертаций;механизмы отказов микросхем;дестабилизирующие факторы
Issue Date: 2018
Publisher: БГУИР
Citation: Пансевич, С. А. Исследование механизмов отказов микросхем в условиях воздействия дестабилизирующих факторов : автореф. дисс. ... магистра техники и технологии : 1–38 80 04 / С. А. Пансевич ; науч. рук. Т. В. Петлицкая. - Минск : БГУИР, 2018. - 16 с.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30299
Appears in Collections:1-38 80 04 Технология приборостроения

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
m_avt_Pansevich.pdf608.55 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.