| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Шиповалов, Д. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-03-30T11:03:52Z | - |
| dc.date.available | 2018-03-30T11:03:52Z | - |
| dc.date.issued | 2003 | - |
| dc.identifier.citation | Шиповалов, Д. В. Отказоустойчивость коммутационных полей цифровых АТС / Д. В. Шиповалов // Доклады БГУИР. - 2003. - № 1. - С. 39 - 42. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30786 | - |
| dc.description.abstract | В статье рассматривается построение современных цифровых АТС (ЦАТС). Исследуются основные узлы ЦАТС, рассматривается функциональное назначение центрального управляющего устройства и коммутационного устройства. Проанализированы структуры построения коммутационного поля, рассмотрены блок-схемы коммутационных полей и оценены возможности
увеличения их емкости. Рассмотрены способы повышения отказоустойчивости коммутационных полей цифровых АТС. Выяснено, что большинство ошибок коммутации приходится на
сбои памяти. Рассмотрены способы повышения надежности запоминающих устройств в коммутационных полях ЦАТС. Предложен метод повышения отказоустойчивости запоминающих
устройств за счет кодов, исправляющих ошибки. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | отказоустойчивость | ru_RU |
| dc.subject | память | ru_RU |
| dc.subject | коды | ru_RU |
| dc.title | Отказоустойчивость коммутационных полей цифровых АТС | ru_RU |
| dc.title.alternative | Fault tolerance of switching fields of digital automatic telephone exchanges | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | The article considers construction of modern digital automatic telephone stations (DATS). The
basic DATS units are investigated, functional duty of the central control device and the switch is considered. Structures of switching field construction are analyzed, block diagrams of switching fields are considered and opportunities of increasing their capacity are estimated. The methods of increasing fault tolerance of switching DATS fields are considered. It is determined that the most of errors of switching are connected with memory errors. The methods of increasing reliability of memories in switching DATS
fields are considered. The method of increasing fault tolerance of memories at the expense of errors correcting codes is proposed. | - |
| Appears in Collections: | №1
|
