https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30867| Title: | Тепловые модели отказов полупроводниковых структур при воздействии мощных электромагнитных импульсов |
| Other Titles: | Thermal models of breakdowns in semiconductor structures under actions of high electromagnetic pulses |
| Authors: | Алексеев, В. Ф. Журавлев, В. И. |
| Keywords: | доклады БГУИР;полупроводниковая структура;тепловой пробой;тепловые модели;МЭМИ |
| Issue Date: | 2005 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Алексеев, В. Ф. Тепловые модели отказов полупроводниковых структур при воздействии мощных электромагнитных импульсов / В. Ф. Алексеев, В. И. Журавлев // Доклады БГУИР. - 2005. - № 2 (10). - С. 65 - 72. |
| Abstract: | Приведен анализ тепловых моделей, описывающих деградацию полупроводниковых струк- тур (ПС) на воздействие мощных электромагнитных импульсов (МЭМИ). Показаны основ- ные способы описания тепловой нестационарности в полупроводниковом кристалле при импульсном нагреве в зависимости от мощности и длительности импульса. Обсуждается необходимость учета температурной зависимости теплофизических свойств полупроводни- ка при моделировании тепловых полей. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/30867 |
| Appears in Collections: | №2 (10) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Alexeev_Thermal.pdf | 460.1 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.