https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/32828
Title: | Оценка надежности полупроводниковых приборов |
Authors: | Вилюха, Ю. Е. |
Keywords: | материалы конференций;полупроводниковые приборы;оценка надежности |
Issue Date: | 2018 |
Publisher: | БГУИР |
Citation: | Вилюха, Ю. Е. Оценка надежности полупроводниковых приборов / Ю. Е. Вилюха // Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем: сборник тезисов 54-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 23–27 апреля 2018 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; отв. ред. Раднёнок А. Л. – Минск, 2018. – С. 44. |
Abstract: | В работе рассматривается подход к оценке надёжности полупроводниковых приборов на основе использования результатов ускоренных испытаний. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/32828 |
Appears in Collections: | Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 54-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2018) |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Vilyukha_Otsenka.pdf | 575.06 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.