https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33210| Title: | Методы оптимизации микрокода встроенной аппаратуры самотестирования ОЗУ |
| Other Titles: | Methods of microcode optimization for embedded memory build-in self-test |
| Authors: | Иванюк, А. А. Автушко, А. А. |
| Keywords: | доклады БГУИР;оперативное запоминающее устройство;маршевый тест;встроенное самотестирование;конечный цифровой автомат;микропрограммное управление |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Иванюк, А. А. Методы оптимизации микрокода встроенной аппаратуры самотестирования ОЗУ / А. А. Иванюк, А. А. Автушко // Доклады БГУИР. - 2010. - № 3 (49). - С. 104 - 110. |
| Abstract: | Рассматриваются способы проектирования встроенной программируемой аппаратуры самотестирования оперативных запоминающих устройств, основанной на разрушающих маршевых тестах, а также методы оптимизации микрокода, кодирующего маршевые тесты, с целью его минимизации для сокращения аппаратурных затрат на память микропрограмм и увеличения скорости передачи тестов по последовательным интерфейсам. |
| Alternative abstract: | Methods of designing programmable build-in self-test architectures for embedded memories based on March tests are described. A new method of March test coding for programmable memory build-in self-test architectures allowing reducing hardware overheads and speed-up tests transferring over serial interfaces is offered. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/33210 |
| Appears in Collections: | №3 (49) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Ivaniuk_Methods.PDF | 394.8 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.