| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Назаров, И. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-07-24T11:39:03Z | - |
| dc.date.available | 2019-07-24T11:39:03Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Назаров, И. В. Исследование скрытых дефектов диэлектрических слоев контролем величины заряда пробоя : автореф. дисс. ... магистра техники и технологий : 1- 39 81 01 / И. В. Назаров; науч. рук. Г. Г. Чигирь. - Минск : БГУИР, 2019. – 16 с. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35808 | - |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | авторефераты диссертаций | ru_RU |
| dc.subject | технологии интегральных микросхем | ru_RU |
| dc.subject | интегральные микросхемы | ru_RU |
| dc.title | Исследование скрытых дефектов диэлектрических слоев контролем величины заряда пробоя | ru_RU |
| dc.type | Автореферат | ru_RU |
| Appears in Collections: | 1-39 81 01 Компьютерные технологии проектирования электронных систем
|
