| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Бондарев, А. А. | - |
| dc.contributor.author | Шешко, П. П. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-10-02T13:32:18Z | - |
| dc.date.available | 2019-10-02T13:32:18Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Бондарев, А. А. Процедура проведения испытаний процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов / Бондарев А. А., Шешко П. П. // Электронные системы и технологии: 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г.: сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 60. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36595 | - |
| dc.description.abstract | В настоящее время отсутствует экспрессный и эффективный метод, позволяющий выявлять потенциально ненадежные
изделия в процессе изготовления микросхем, и работы по созданию такого метода является весьма актуальными.
Предложенная процедура тестирования направлена на выбор прибора при воздействии горячих носителей в выбранном
режиме испытаний. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | р-МОП-транзисторы | ru_RU |
| dc.subject | изготовление микросхем | ru_RU |
| dc.title | Процедура проведения испытаний процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
