https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41773| Title: | Статистические аспекты сквозного моделирования ИМС |
| Authors: | Чан Туан Чунг Нелаев, В. В. Стемпицкий, В. Р. |
| Keywords: | материалы конференций;микроэлектроника;метод поверхности откликов;сквозной статистический анализ |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Чан Туан Чунг. Статистические аспекты сквозного моделирования ИМС / Чан Туан Чунг, Нелаев В. В., Стемпицкий В. Р. // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVIII Белорусско-российской научно-технической конференции, Браслав, 24–28 мая 2010 г. / редкол.: Л. М. Лыньков [и др.]. – Минск : БГУИР, 2010. – С. 122–123. |
| Abstract: | Важнейшей задачей проектирования изделий микроэлектроники является повышение технологичности производства с целью обеспечения максимального процента выхода годных изделий и получения наилучших характеристик схемы/системы, минимизации их чувствительности к случайным отклонениям (флуктуациям) значений технологических параметров. Проведен анализ существующих методов и программных средств, используемых для проведения статистического анализа и оптимизации параметров схемы/системы. Показано, что наиболее эффективным методом для решения указанной задачи является метод поверхности откликов (МПО). |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41773 |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2010 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Chan_Statisticheskiye.pdf | 84.16 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.