Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42123
Title: Моделирование технологии формирования структуры IGBT транзистора
Authors: Шелибак, И. М.
Keywords: материалы конференций;биполярные транзисторы;IGBT-транзисторы;силовые электронные приборы
Issue Date: 2010
Publisher: БГУИР
Citation: Шелибак, И. М. Моделирование технологии формирования структуры IGBT транзистора / Шелибак И. М. // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVIII Белорусско-российской научно-технической конференции, Браслав, 24–28 мая 2010 г. / редкол.: Л. М. Лыньков [и др.]. – Минск : БГУИР, 2010. – С. 122.
Abstract: IGBT-транзистор (англ. Insulated Gate Bipolar Transistor — биполярный транзистор с изолированным затвором) представляет собой силовой электронный прибор, предназначенный в основном, для управления электрическими приводами. Выпускаются как отдельные IGBT, так и силовые сборки (модули) на их основе, например, для управления цепями трёхфазного тока. Диапазон использования IGBT транзистор — от десятков а до 1200 а по току, от сотен вольт до 10 кВ по напряжению.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42123
Appears in Collections:ТСЗИ 2010

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Shelibak_Modelirovaniye.pdf81.94 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.