Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45213
Title: Отбраковочные испытания электронных пластиковых карт
Authors: Лыньков, Л. М.
Таболич, Т. Г.
Keywords: доклады БГУИР;электронные пластиковые карты;отбраковочные испытания;телефонные электронные пластиковые карты
Issue Date: 2005
Publisher: БГУИР
Citation: Лыньков, Л. М. Отбраковочные испытания электронных пластиковых карт / Лыньков Л. М., Таболич Т. Г. // Доклады БГУИР. – 2005. – № 5. – С. 57–59.
Abstract: В настоящее время электронные пластиковые карты (ЭПК) получили широкое распространение в таких областях человеческой деятельности как коммуникационная, финансово-экономическая, торговая, бытовая. При эксплуатации ЭПК имеют место сбои и отказы в работе. Целью данной работы являлось выявление потенциально ненадежных элементов ЭПК.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45213
Appears in Collections:№5

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Lynkov_Otbrakovochnyye.pdf308.98 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.