https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45213
Title: | Отбраковочные испытания электронных пластиковых карт |
Authors: | Лыньков, Л. М. Таболич, Т. Г. |
Keywords: | доклады БГУИР;электронные пластиковые карты;отбраковочные испытания;телефонные электронные пластиковые карты |
Issue Date: | 2005 |
Publisher: | БГУИР |
Citation: | Лыньков, Л. М. Отбраковочные испытания электронных пластиковых карт / Лыньков Л. М., Таболич Т. Г. // Доклады БГУИР. – 2005. – № 5. – С. 57–59. |
Abstract: | В настоящее время электронные пластиковые карты (ЭПК) получили широкое распространение в таких областях человеческой деятельности как коммуникационная, финансово-экономическая, торговая, бытовая. При эксплуатации ЭПК имеют место сбои и отказы в работе. Целью данной работы являлось выявление потенциально ненадежных элементов ЭПК. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45213 |
Appears in Collections: | №5 |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Lynkov_Otbrakovochnyye.pdf | 308.98 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.