https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45946| Title: | Неразрушающие тесты с четным повторением адресов для запоминающих устройств |
| Authors: | Ярмолик, В. Н. Мрозек, И. Леванцевич, В. А. Деменковец, Д. В. |
| Keywords: | публикации ученых;тестирование вычислительных систем;запоминающие устройства;многократное неразрушающее тестирование |
| Issue Date: | 2021 |
| Publisher: | Объединенный институт проблем информатики Национальной академии наук Беларуси |
| Citation: | Неразрушающие тесты с четным повторением адресов для запоминающих устройств / В. Н. Ярмолик [и др.] // Информатика. – 2021 . − Т. 18, № 3. – С. 18–35. – DOI : https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-3-18-35. |
| Abstract: | В статье показывается актуальность задачи тестирования запоминающих устройств современных вычислительных систем. Исследуются математические модели неисправностей этих устройств и используемые методы тестирования наиболее сложных из них на базе классических неразрушающих маршевых тестов. Вводится понятие адресных последовательностей (pA) с четным повторением адресов, которые являются основой базового элемента, входящего в структуру новых неразрушающих маршевых тестов March_pA_1 и March_pA_2. Приводятся алгоритмы формирования подобных последовательностей и примеры их реализации. Показывается максимальная диагностическая способность новых тестов для случая простейших неисправностей, таких как константные (SAF) и переходные (TF), а также сложных кодочувствительных неисправностей (PNPSFk). |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45946 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Yarmolik_Nerazrushayushchiye.pdf | 1.15 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.