https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46056| Title: | Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей |
| Authors: | Деменковец, Д. В. Леванцевич, В. А. |
| Keywords: | материалы конференций;запоминающие устройства;двойные адресные последовательности |
| Issue Date: | 2021 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Деменковец, Д. В. Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей / Д. В. Деменковец, В. А. Леванцевич // Информационные технологии и системы 2021 (ИТС 2021) = Information Teсhnologies and Systems 2021 (ITS 2021) : материалы международной научной конференции, Минск, 24 ноября 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск, 2021. – С. 118–119. |
| Abstract: | Анализируется эффективность применения классических неразрушающих тестов для тестирования запоминающих устройств и их основные недостатки, среди которых выделяют большую временную сложность и низкую частотную способность. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46056 |
| Appears in Collections: | ИТС 2021 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Demenkovets_Nerazrushayushcheye.pdf | 167.6 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.