Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46064
Title: Анализ тестов запоминающих устройств для обнаружения пассивных кодочувствительных неисправностей
Authors: Петровская, В. В.
Деменковец, Д. В.
Keywords: материалы конференций;запоминающие устройства;пассивные кодочувствительные неисправности
Issue Date: 2021
Publisher: БГУИР
Citation: Петровская, В. В. Анализ тестов запоминающих устройств для обнаружения пассивных кодочувствительных неисправностей / В. В. Петровская, Д. В. Деменковец // Информационные технологии и системы 2021 (ИТС 2021) = Information Teсhnologies and Systems 2021 (ITS 2021) : материалы международной научной конференции, Минск, 24 ноября 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск, 2021. – С. 128– 129.
Abstract: Тезис посвящен методам обнаружения неисправностей запоминающих элементов. Рассматриваются модели неисправностей, структура и алгоритм выполнения маршевых тестов.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46064
Appears in Collections:ИТС 2021

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kokhnovskaya_Analiz.pdf166.66 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.