https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46071
Title: | Экспериментальные исследования и модель двухзатворного JFET для аналоговых интегральных микросхем |
Other Titles: | Experimental studies and a double gate JFET model for analog integrated circuits |
Authors: | Галкин, Я. Д. Дворников, О. В. Чеховский, В. А. Прокопенко, Н. Н. |
Keywords: | доклады БГУИР;двухзатворные транзисторы;электрометрические усилители;зарядочувствительные усилители;double gate transistor;electrometric amplifier;charge-sensitive amplifier |
Issue Date: | 2021 |
Publisher: | БГУИР |
Citation: | Экспериментальные исследования и модель двухзатворного JFET для аналоговых интегральных микросхем / Галкин Я. Д. [и др.] // Доклады БГУИР. – 2021. – № 19 (7). – С. 5–12. – DOI : http://dx.doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-7-5-12. |
Abstract: | Одним из направлений улучшения параметров аналоговых интегральных микросхем является разработка новых и модернизация существующих конструкций интегральных элементов без значительного изменения технологического маршрута изготовления интегральных микросхем с одновременным созданием моделей новых интегральных элементов. В статье рассмотрены результаты экспериментальных исследований двухзатворного полевого транзистора с управляющим p-n-переходом, изготовленного по технологическому маршруту 3CBiT ОАО «Интеграл». На основе полученных результатов предложена электрическая модель двухзатворного полевого транзистора с управляющим p-n-переходом, описывающая особенности его применения в аналоговых интегральных микросхемах. Приведено сравнение результатов измерений и моделирования вольтамперных характеристик с использованием созданной модели при разных режимах управления затворами. Малая емкость и обратный ток верхнего затвора двухзатворного полевого транзистора с управляющим p-n-переходом, возможность компенсации постоянной составляющей входного тока обеспечивают значительное улучшение характеристик таких аналоговых интегральных микросхем, как электрометрические операционные усилители и зарядочувствительные усилители. Разработанный двухзатворный полевой транзистор с управляющим p-n-переходом может найти применение в устройствах считывания сигналов, необходимых в аналоговых интерфейсах датчиков космического приборостроения и ядерной Электроники. |
Alternative abstract: | One of directions of improving parameters of analog integrated circuits is a development of new and modernization of existing designs of integrated elements without significantly changing of a technological route of integrated circuit manufacturing with a simultaneous creation of new integrated elements models. The article considers the results of experimental studies of the double gate junction field-effect transistor manufactured according to the 3CBiT technological route of JSC Integral. Based on the obtained results, the electrical model of double gate junction field-effect transistor is proposed, which describes the features of its application in analog integrated circuits. Comparison of I-V characteristics of measurements results and created model simulation are presented. A small capacity and a reverse current of a double gate junction field-effect transistor top gate, an ability to compensate for the DC (direct current) component of an input current provide a significant improvement in the characteristics of analog integrated circuits such as electrometric operational amplifiers and charge-sensitive amplifiers. The developed double gate junction field-effect transistor can be used in signal readout devices required in the analog interfaces of space instrument sensors and nuclear electronics. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46071 |
Appears in Collections: | № 19(7) |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Galkin_Eksperimentalnie.pdf | 635.24 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.