| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Рабцевич, В. В. | - |
| dc.contributor.author | Цветков, В. Ю. | - |
| dc.date.accessioned | 2022-05-14T11:44:12Z | - |
| dc.date.available | 2022-05-14T11:44:12Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.citation | Рабцевич, В. В. Уровневые модели и волновые алгоритмы сегментации АСМ-изображений / В. В. Рабцевич, В. Ю. Цветков // Технологии передачи и обработки информации : материалы международного научно-технического семинара, Минск, март-апрель 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2022. – С. 50–56. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46951 | - |
| dc.description.abstract | Предложены уровневые модели и алгоритмы волновой сегментации полутоновых изображений поверхностей материалов, получаемых с помощью атомного силового микроскопа. Показано, что комбинация результатов нескольких алгоритмов позволяет повысить точность сегментации и определить соответствие фрагментов изображений предложенным моделям. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | микроскопы | ru_RU |
| dc.subject | атомные силовые микроскопы | ru_RU |
| dc.subject | полутоновые изображения | ru_RU |
| dc.subject | микроскопия | ru_RU |
| dc.subject | image segmentation | ru_RU |
| dc.subject | image models | ru_RU |
| dc.subject | atomic force microscopy | ru_RU |
| dc.title | Уровневые модели и волновые алгоритмы сегментации АСМ-изображений | ru_RU |
| dc.title.alternative | Level models and wave algorithms for segmentation of AFM images | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | Level models and algorithms for wave segmentation of halftone images of material surfaces obtained with an atomic force microscope are proposed. It is shown that the combination of the results of several algorithms can improve the accuracy of segmentation and determine the correspondence of image fragments to the proposed models. | - |
| Appears in Collections: | Технологии передачи и обработки информации : материалы международного научно-технического семинара (2022)
|
