Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47114
Title: Выбор материалов гибких подложек для формирования тонких пленок Cu2NiSn(Se,S)4
Other Titles: Analysis of materials for flexible substrates for the formation of thin Cu2NiSn(Se,S)4 films
Authors: Осмоловская, Т. Н.
Keywords: материалы конференций;температурный коэффициент;линейное расширение;полупроводниковые материалы;гибкие подложки;temperature coefficient;linear expansion;semiconductor materials;flexible substrates
Issue Date: 2022
Publisher: БГУИР
Citation: Осмоловская, Т. Н. Выбор материалов гибких подложек для формирования тонких пленок Cu2NiSn(Se,S)4 / Т. Н. Осмоловская // Электронные системы и технологии [Электронный ресурс] : сборник материалов 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18-22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2022. – С. 43–46. – Режим доступа : https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46926.
Abstract: Проведён литературный анализ ряда материалов, применимых в качестве гибких подложек для формирования Cu2NiSn(Se,S)4. Показано, что важнейшими параметрами являются шероховатость поверхности, температурный коэффициент линейного расширения, максимальная температура подложки и процесс последующего внедрения натрия. A literature analysis of a number of materials used as flexible substrates for the formation of Cu2 NiSn(Se,S)4 has been carried out. It is shown that the primary parameters are surface roughness, temperature coefficient of linear expansion, elevated substrate temperature, and sodium detection process.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47114
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 58-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2022)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Osmolovskaya_Vybor.pdf218.84 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.