Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47293
Title: Анализ технологии плазменной обработки полупроводниковых структур
Other Titles: Analysis of the plasma processing technology of semiconductor structures
Authors: Жаворонок, И. А.
Тихон, О. И.
Keywords: материалы конференций;плазменное травление;сверхвысокочастотные плазмы;сверхвысокочастотные магнетроны;plasma etching;microwave plasma;microwave magnetron
Issue Date: 2022
Publisher: БГУИР
Citation: Жаворонок, И. А. Анализ технологии плазменной обработки полупроводниковых структур / И. А. Жаворонок, О. И. Тихон // Электронные системы и технологии [Электронный ресурс] : сборник материалов 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18-22 апреля 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2022. – С. 403–405. – Режим доступа : https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46926.
Abstract: Проведен анализ разновидностей сухого травления, в частности такого вида сухого травления как ионно-плазменная обработка. Описано влияние на пластину и ее поверхность данного вида травления. An analysis of the varieties of dry etching, in particular, such a type of dry etching as ion-plasma processing, has been carried out. The effect of this type of etching on the wafer and its surface is described.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/47293
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 58-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2022)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Zhavoronok_Analiz.pdf215.54 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.