Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48203
Title: Стабильность тонких плёнок диоксида гафния
Authors: Карженевская, В. Ю.
Алексеев, А. Ю.
Keywords: материалы конференций;тонкие пленки;диэлектрики
Issue Date: 2022
Publisher: БГУИР
Citation: Карженевская, В. Ю. Стабильность тонких плёнок диоксида гафния / Карженевская В. Ю., Алексеев А. Ю. // Радиотехника и электроника : сборник тезисов докладов 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, апрель 2022 / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2022. – С. 37–38.
Abstract: В ходе работы исследовались тонкие плёнки диоксида гафния (HfO2) с толщиной до 30 Å, имеющие различные фазы и кристаллографические ориентации. Расчёты производились с целью выявления наиболее стабильной из фаз. Определили, что при толщинах плёнки менее 20 Å наименьшей полной энергией обладают пленки с кубической структурой, а при больших толщинах – с моноклинной структурой. 2D HfO2 с кубической структурой также являются динамически стабильными.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48203
Appears in Collections:Радиотехника и электроника : материалы 58-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2022)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Karzhenevskaya_Stabilnost.pdf432.32 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.