Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/49604
Title: Влияние электрического поля на скорость удаления носителей заряда в кремний-германиевых сплавах р-типа при облучении альфа-частицами
Other Titles: Influence of the electric field on the rate of removal of charge carriers in silicon-germanium alloys p-type under irradiation with alpha particles
Authors: Жданович, Д. Н.
Огородников, Д. А.
Медведева, И. Ф.
Фадеева, Е. А.
Толкачева, Е. А.
Keywords: материалы конференций;кремний-германиевый сплав;DLTS-спектроскопия;альфа-частица
Issue Date: 2022
Publisher: БГУИР
Citation: Влияние электрического поля на скорость удаления носителей заряда в кремний-германиевых сплавах р-типа при облучении альфа-частицами = Influence of the electric field on the rate of removal of charge carriers in silicon-germanium alloys p-type under irradiation with alpha particles / Д. Н. Жданович // Медэлектроника–2022. Средства медицинской электроники и новые медицинские технологии : сборник научных статей XIII Международной научно-технической конференции, Минск, 8-9 декабря 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; отв. за вып.: М. В. Давыдов. – Минск : БГУИР, 2022. – С. 194–198.
Abstract: Показано, что при облучении альфа частицами обратно-смещенных диодных структур на основе кристаллов р-SiGe скорость удаления основных носителей заряда значительно снижена в области пространственного заряда (ОПЗ) диодов по сравнению с квазинейтральной областью. Наблюдаемый эффект связан с инжекционно-ускоренной миграцией собственных межузельных атомов кремния и их взаимодействием с другими дефектами решетки в ОПЗ диодов во время облучения.
Alternative abstract: It is found that the removal rate of majority charge carriers is significantly reduced in depleted regions of reverse-biased SiGe-based n+-p diodes compared to that in the neutral regions upon irradiation with alfa particles. The observed effect is related to injection-enhanced mobility of Si self-interstitial atoms and their interactions with other lattice defects in the depleted regions of the diodes during irradiation.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/49604
Appears in Collections:Медэлектроника - 2022

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Jdanovich_Vliyanie.pdf592.38 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.