https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50421
Title: | Прогнозирование надёжности биполярных транзисторов по постепенным отказам методом имитационного моделирования |
Other Titles: | Prediction of reliability of bipolar transistors by gradual failures by simulations |
Authors: | Калита, Е. В. Боровиков, С. М. Бересневич, А. И. |
Keywords: | публикации ученых;биполярные транзисторы;имитационное моделирование |
Issue Date: | 2023 |
Publisher: | Интернаука |
Citation: | Прогнозирование надёжности биполярных транзисторов по постепенным отказам методом имитационного моделирования = Prediction of reliability of bipolar transistors by gradual failures by simulations / Калита Е. В., Боровиков С. М., Бересневич А. И. // Интернаука: научный журнал. – 2023. – № 8(278). – Ч. 3. – С. 19–22. |
Abstract: | На примере биполярных транзисторов показано получение по результатам обучающего эксперимента имитационной модели в виде функции пересчёта заданной наработки на значение имитационного воздействия. Используя имитационную модель, выполнено индивидуальное прогнозирование электрического параметра транзисторов контрольной выборки для длительных наработок с последующей оценкой ошибки прогнозирования. |
Alternative abstract: | Using the example of bipolar transistors, it is shown that, based on the results of a training experiment, a simulation model is obtained in the form of a function of recalculating a given operating time by the value of a simulation effect. Using a simulation model, an individual prediction of the electrical parameter of the transistors of the control sample for long-term operating time was performed, followed by an estimate of the prediction error. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50421 |
Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Kalita_Prognozirovanie_nadejnosti.pdf | 861.33 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.