Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50930
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСуходольский, А. М.-
dc.contributor.authorДробыш, П. П.-
dc.contributor.authorВласенко, В. Н.-
dc.contributor.authorПритуляк, П. В.-
dc.coverage.spatialМоскваru_RU
dc.date.accessioned2023-04-07T08:40:33Z-
dc.date.available2023-04-07T08:40:33Z-
dc.date.issued1986-
dc.identifier.citationТестовая ячейка для контроля качества МДП-БИС : а. с. 1267303 СССР : МПК G 01 R 31/28 / А. М. Суходольский, П. П. Дробыш, В. Н. Власенко, П. В. Притуляк ; заявитель и патентообладатель Минский радиотехнический институт. – № 3862840/24-21 ; заявл. 21.01.1985 ; опубл. 30.10.1986 – 4 с. : ил.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50930-
dc.description.abstractИзобретение относится к производству больших интегральных схем на МДП-транзисторах (МДП-БИС). Может быть использовано для их контроля и управления технологическими процессами изготовления.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherГосударственный комитет СССР по делам изобретений и открытийru_RU
dc.subjectпатентыru_RU
dc.subjectинтегральные схемыru_RU
dc.subjectмдп-транзисторыru_RU
dc.subjectустройства контроляru_RU
dc.titleТестовая ячейка для контроля качества МДП-БИСru_RU
dc.title.alternativeА. с. 1267303 СССРru_RU
dc.typeOtherru_RU
Appears in Collections:Изобретения

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Pat_1267303.pdf260.32 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.