Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5635
Title: Сборка общего изображения топологии СБИС
Authors: Ланкевич, Ю. Ю.
Keywords: материалы конференций;интегральных микросхемы СБИС
Issue Date: 2015
Publisher: БГУИР
Citation: Ланкевич Ю. Ю. Сборка общего изображения топологии СБИС // Информационные технологии и системы 2015 (ИТС 2015): материалы международной научной конференции (БГУИР, Минск, Беларусь, 28 октября 2015). - Information Technologies and Systems 2015 (ITS 2015): Proceeding of the International Conference (BSUIR, Minsk, Belarus, 28th October 2015) / редкол. : Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск: БГУИР, 2015. – С. 160-161
Abstract: Рассматривается задача сборки общего изображения слоя топологии сверхбольших интегральных микросхем (СБИС) из кадров, полученных путём фотографирования микроскопом технологического слоя микросхемы. Предлагается вариант алгоритма решения задачи совмещения путём анализа матриц ошибок совмещений.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/5635
ISBN: 978-985-543-171-9
Appears in Collections:ИТС 2015

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
270218.PDF588.53 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.