Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/8045
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКаптур, О. А.-
dc.contributor.authorОразмухамедов, К. Д.-
dc.contributor.authorГанджунц, А. В.-
dc.date.accessioned2016-07-18T12:17:36Z-
dc.date.accessioned2017-07-17T09:26:39Z-
dc.date.available2016-07-18T12:17:36Z-
dc.date.available2017-07-17T09:26:39Z-
dc.date.issued2014-
dc.identifier.citationКаптур, О. А. Анализ применимости и эффективности международных аттестационных тестов / О. А. Каптур, К. Д. Оразмухамедов, А. В. Ганджунц // Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : сборник материалов 50-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 24–28 марта 2014 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: М. П. Батура [и др.]. – Минск, 2014. – С. 36–37.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/8045-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectмеждународные аттестационные тестыru_RU
dc.subjectPISAru_RU
dc.subjectTIMSSru_RU
dc.subjectPIRLSru_RU
dc.titleАнализ применимости и эффективности международных аттестационных тестовru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 50-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2014)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Анализ применимости.PDF769.59 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.