https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/928| Title: | Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур |
| Authors: | Максименко, В. А. Короновский, А. А. Москаленко, О. И. Храмов, А. Е. Алексеев, К. Н. Баланов, А. Г. |
| Keywords: | материалы конференций;полупроводниковая сверхрешетка;пространственно-временная неустойчивость;домены |
| Issue Date: | 2014 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Максименко, В. А. Метод анализа устойчивости сильносвязанных полупроводниковых наноструктур. // Международная научно-техническая конференция, приуроченная к 50-летию МРТИ-БГУИР (Минск, 18-19 марта 2014 года) : материалы конф. В 2 ч. Ч. 1. - Минск, 2014. - С. 52-53 |
| Abstract: | В работе предложен метод анализа устойчивости стационарного состояния сильносвязанной полупроводниковой сверхрешетки, позволяющий рассчитывать значение напряжения, необходимого для возникновения неустойчивости и находить частоту возникающих колебаний. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/928 |
| ISBN: | 978-985-543-037-8 |
| Appears in Collections: | Секция «Радиотехника и электроника» |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| метод анализа.pdf | 375.61 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.