| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Епихин, А. Е. | - |
| dc.contributor.author | Шнейдеров, Е. Н. | - |
| dc.contributor.author | Протасевич, С. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-10-11T08:39:56Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-17T09:30:57Z | - |
| dc.date.available | 2016-10-11T08:39:56Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-17T09:30:57Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.citation | Епихин, А. Е. Прогнозирование надёжности сложных электронных систем методом анализа дерева отказов / А. Е. Епихин, Е. Н. Шнейдеров, С. А. Протасевич // Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных средств : сборник материалов 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 6–10 мая 2013 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Боднарь И. В. [и др.]. – Минск, 2013. – С. 215–216. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/9307 | - |
| dc.description.abstract | В современном мире основной целью прогнозирования надёжности сложных электронных систем является умень-
шение вероятности аварий и связанных с ними человеческих жертв, экономических потерь и нарушений в окружающей
среде. Это обуславливает использование метода анализа дерева отказов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | надежность | ru_RU |
| dc.subject | электронные системы | ru_RU |
| dc.subject | дерево отказов | ru_RU |
| dc.subject | оценка риска | ru_RU |
| dc.title | Прогнозирование надёжности сложных электронных систем методом анализа дерева отказов | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2013)
|
