https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36595| Title: | Процедура проведения испытаний процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов |
| Authors: | Бондарев, А. А. Шешко, П. П. |
| Keywords: | материалы конференций;р-МОП-транзисторы;изготовление микросхем |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | БГУИР |
| Citation: | Бондарев, А. А. Процедура проведения испытаний процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов / Бондарев А. А., Шешко П. П. // Электронные системы и технологии: 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г.: сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 60. |
| Abstract: | В настоящее время отсутствует экспрессный и эффективный метод, позволяющий выявлять потенциально ненадежные изделия в процессе изготовления микросхем, и работы по созданию такого метода является весьма актуальными. Предложенная процедура тестирования направлена на выбор прибора при воздействии горячих носителей в выбранном режиме испытаний. |
| URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36595 |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019) |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Bondarev_Protsedura.pdf | 489.91 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.