https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/8045
Title: | Анализ применимости и эффективности международных аттестационных тестов |
Authors: | Каптур, О. А. Оразмухамедов, К. Д. Ганджунц, А. В. |
Keywords: | материалы конференций;международные аттестационные тесты;PISA;TIMSS;PIRLS |
Issue Date: | 2014 |
Publisher: | БГУИР |
Citation: | Каптур, О. А. Анализ применимости и эффективности международных аттестационных тестов / О. А. Каптур, К. Д. Оразмухамедов, А. В. Ганджунц // Компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : сборник материалов 50-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 24–28 марта 2014 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: М. П. Батура [и др.]. – Минск, 2014. – С. 36–37. |
URI: | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/8045 |
Appears in Collections: | Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 50-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2014) |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Анализ применимости.PDF | 769.59 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.