Прогнозирование надёжности сложных электронных систем методом анализа дерева отказов

Епихин, А. Е.; Шнейдеров, Е. Н.; Протасевич, С. А.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/9307

Title:	Прогнозирование надёжности сложных электронных систем методом анализа дерева отказов
Authors:	Епихин, А. Е. Шнейдеров, Е. Н. Протасевич, С. А.
Keywords:	материалы конференций;надежность;электронные системы;дерево отказов;оценка риска
Issue Date:	2013
Publisher:	БГУИР
Citation:	Епихин, А. Е. Прогнозирование надёжности сложных электронных систем методом анализа дерева отказов / А. Е. Епихин, Е. Н. Шнейдеров, С. А. Протасевич // Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных средств : сборник материалов 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 6–10 мая 2013 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Боднарь И. В. [и др.]. – Минск, 2013. – С. 215–216.
Abstract:	В современном мире основной целью прогнозирования надёжности сложных электронных систем является умень- шение вероятности аварий и связанных с ними человеческих жертв, экономических потерь и нарушений в окружающей среде. Это обуславливает использование метода анализа дерева отказов.
URI:	https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/9307
Appears in Collections:	Моделирование, компьютерное проектирование и технология производства электронных систем : материалы 49-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2013)

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Прогнозирование надёжности.PDF		401.3 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar