Issue Date | Title | Author(s) |
2020 | Влияние морфологии на теплопроводность тонких плёнок SiGe | Хомец, А. Л.; Холяво, И. И.; Сафронов, И. В. |
2022 | Влияние морфологии на фононную теплопроводность нанопроволок Si, Ge и Si/Ge типа ядро/оболочка | Холяво, И. И.; Хомец, А. Л.; Сафронов, И. В.; Филонов, А. Б.; Мигас, Д. Б. |
2023 | Влияние морфологии поверхности и границ раздела на продольную фононную теплопроводность в тонкопленочных структурах Ge(001) и Si/Ge(001) | Хомец, А. Л.; Сафронов, И. В.; Филонов, А. Б.; Мигас, Д. Б. |
2019 | Влияние морфологии поверхности на стабильность наношнуров кремния | Самусевич, И. С.; Сафронов, И. В. |
2021 | Влияние ориентации и морфологии на решеточную теплопроводность Si/Ge наношнуров сегментного типа | Холяво, И. И.; Хомец, А. Л.; Сафронов, И. В. |
2021 | Влияние ориентации свободной поверхности в слоистых Si/Ge пленках на поперечную решеточную теплопроводность | Хомец, А. Л.; Холяво, И. И.; Сафронов, И. В. |
2022 | Влияние поверхности и границ раздела на продольный тепловой транспорт в слоистых тонкопленочных структурах Si/Ge | Хомец, А. Л.; Холяво, И. И.; Сафронов, И. В.; Филонов, А. Б.; Мигас, Д. Б. |
2020 | Исследование теплопроводности <011>-ориентированных наношнуров Si/Ge со структурами типа ядро-оболочка и сегментного типа | Холяво, И. И.; Хомец, А. Л.; Сафронов, И. В. |
2018 | Исследование теплопроводности многослойных, тонкоплёночных структур Si/Ge методом молекулярной динамики | Хомец, А. Л.; Холяво, И. И.; Сафронов, И. В.; Мигас, Д. Б. |
2013 | Исследованные радиационные и фотоэлектрические явления в облученных компрессионной плазмой полупроводниках с целью создания радиационностойких фотовольтаических структур: отчет о НИР (заключ.) | Квасов, Н. Т.; Дорошевич, И. Л.; Петухов, Ю. А.; Кудактин, Р. С.; Павловская, Е. Р.; Сафронов, И. В.; Шайковская, Н. Д.; Вашкель, П. В. |